Sensofar Metrology est fier d'annoncer la sortie du prochain outil de métrologie pour de vastes zones. Le S wide est un système de métrologie optique 3D sans contact haute performance conçu pour la mesure à micro-échelle, avec des capacités avancées d'inspection et d'analyse.
Le S wide est une solution dédiée conçue pour mesurer rapidement de grandes zones d'échantillonnage jusqu'à 300 x 300 mm (11,8 x 11,8 pouces). Il offre tous les avantages d'un microscope numérique intégré dans un instrument de mesure haute résolution. Extrêmement facile à utiliser avec une acquisition de données à un bouton.
Le nouveau système de métrologie optique 3D à grande surface de Sensofar Metrology, le S large
Les caractéristiques les plus importantes sont:
- Mesure en une seule hauteur jusqu'à 40 mm sans numérisation Z.
- Répétabilité de hauteur inférieure au micron sur toute la zone étendue.
- Écart de forme par rapport aux modèles CAO 3D (fournissant la différence de géométrie et la mesure de tolérance).
- Lentilles bi-télécentriques à très faible distorsion de champ assurant une métrologie précise.
Le S large est destiné aux solutions suivantes:
- Fabrication avancée
- Archéologie et paléontologie
- Electronique grand public
- Équipement médical
- Moulage
- Optique
- L'industrie horlogère
Le S large est idéal pour tous les environnements de laboratoire, sans limitations et comme capteur dans les zones de production.
Chaque S large est fabriqué pour fournir des mesures précises et traçables. Les systèmes sont calibrés et traçables selon les normes ISO 25178 et VDI2634-2.
Le S wide est livré avec SensoSCAN qui pilote le système avec une interface claire, intuitive et conviviale et est couplé avec le nouveau logiciel SensoVIEW pour une large gamme de tâches d'analyse. Des modules d'analyse automatisés ont été créés pour faciliter toutes les procédures QC avec SensoPRO.
