Piscataway, NJ – 4 mars 2025 – Horiba, un leader mondial des technologies analytiques et de mesure, annonce fièrement le lancement de SignaturesPM ™, un nouveau système de caractérisation multimodal construit sur une plate-forme de microscopie à force atomique automatisée (AFM) et intégré à un spectromètre Raman / photoluminescence. Ce système innovant permet des mesures simultanées et colocalisées et fournit des informations inégalées sur les propriétés physiques et chimiques des matériaux.
SignaturesPM est un microscope construit sur une plate-forme de caractérisation multimodale, intégrant un microscope à force atomique automatisée (AFM) avec un spectromètre Raman / Photoluminescence, permettant de véritables mesures colocalisées des propriétés physiques et chimiques.
Crédit d'image: Horiba Scientific UK
SignaturesPM propose des analyses complètes des données topographiques, mécaniques, électriques, magnétiques, optiques et chimiques en une seule mesure en temps réel. Cette solution intégrée nécessite moins de manipulation des échantillons et fournit une acquisition de données colocalisée plus rapide qui rationalise le flux de travail et fournit des résultats en moins de temps.
Le SignaturesPM combine l'AFM avec la spectroscopie Raman et photoluminescence pour améliorer l'identification chimique. Il est facile à utiliser, a une courbe d'apprentissage minimale permettant aux utilisateurs de démarrer des mesures en moins de cinq minutes. Sa stabilité, sa vitesse et sa facilité d'utilisation le rendent idéal pour la recherche en nanotechnologie et sa caractérisation matérielle.
Le SignaturesPM est basé sur les performances éprouvées du logiciel SMARTSPM qui combine un scanner AFM, un laser de rétroaction NIR, une automatisation complète de l'alignement de la sonde AFM, une approche de la pointe et une optimisation de rétroaction AFM, y compris l'ajustement dynamique du taux de balayage sans la distorsion de l'image.
L'AFM de SignaturesPM peut effectuer de grands scans et une résolution moléculaire, priorisant la stabilité par le temps de réponse rapide, le faible bruit, la faible dérive et la traçabilité métrologique. Les algorithmes de contrôle, pris en charge par le contrôleur numérique, permettent des vitesses de numérisation sans précédent et une imagerie haute résolution, même pendant les changements de vitesse en ligne.
La combinaison de l'AFM avec la spectroscopie Raman et la photoluminescence permet une analyse simultanée de la topographie de surface d'un matériau, de la composition chimique et des propriétés électroniques à l'échelle nanométrique. Cela fournit une compréhension complète de la structure et de la fonctionnalité d'un échantillon avec une corrélation spatiale précise entre les différents types de données, ce qui est particulièrement utile dans des domaines comme la science des matériaux, la chimie, la biologie, la nanotechnologie, la recherche sur les semi-conducteurs et les sciences de la vie. Surtout, la rétroaction NIR permet de véritables mesures de lumière / lumière pour les matériaux photosensibles.
SignaturesPM a entièrement intégré plusieurs modes AFM, notamment:
- Microscopie de sonde Kelvin
- Microscopie de force de réponse piézo
- Microscopie à force magnétique
- Nanolithographie
- Mesures de la courbe de force
« La conception de la signaturePM a été motivée par l'engagement d'Horiba à développer des solutions analytiques et d'automatisation innovantes qui répondent aux besoins des scientifiques et des chercheurs », a déclaré Joao-Lucas Rangel, AFM & AFM-Raman chef de produit à Horiba. «Le SignaturesPM permettra des mesures multimodales précises, ce qui en fait un outil très pertinent pour la recherche de pointe.»
Pour plus d'informations sur le nouveau système de caractérisation multimodal de signatures, veuillez vous rendre sur horiba.com
